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  1. Reduction of Test Time During Design for Testability Reduction of Test Time During Design for Testability

    Reduction of Test Time During Design for Testability

    Yogeshkumar Parmar
    LAP LAMBERT Academic Publishing
    21.12.2021

    As VLSI technology is continuously shrinking to lower technology nodes we need efficient techniqu...

    Taschenbuch
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  2. Redução do tempo de teste durante a concepção para a Testabilidade Redução do tempo de teste durante a concepção para a Testabilidade

    Redução do tempo de teste durante a concepção para a Testabilidade

    Yogeshkumar Parmar
    Edições Nosso Conhecimento
    21.01.2022

    Como a tecnologia VLSI está encolhendo continuamente para nós de tecnologia inferior, precisamos ...

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  3. Reduzierung der Testzeit während des Designs für Testbarkeit Reduzierung der Testzeit während des Designs für Testbarkeit

    Reduzierung der Testzeit während des Designs für Testbarkeit

    Yogeshkumar Parmar
    Verlag Unser Wissen
    21.01.2022

    Da die VLSI-Technologie ständig auf kleinere Technologieknoten schrumpft, benötigen wir eine effi...

    Taschenbuch
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  4. Riduzione del tempo di prova durante la progettazione per la testabilità Riduzione del tempo di prova durante la progettazione per la testabilità

    Riduzione del tempo di prova durante la progettazione per la testabilità

    Yogeshkumar Parmar
    Edizioni Sapienza
    21.01.2022

    Poiché la tecnologia VLSI si sta continuamente riducendo a nodi tecnologici più bassi, abbiamo bi...

    Taschenbuch
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  5. Réduction du temps de test pendant la conception pour la testabilité Réduction du temps de test pendant la conception pour la testabilité

    Réduction du temps de test pendant la conception pour la testabilité

    Yogeshkumar Parmar
    Editions Notre Savoir
    21.01.2022

    Comme la technologie VLSI se réduit continuellement à des noeuds technologiques inférieurs, nous ...

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  6. Reducción del tiempo de prueba durante el diseño para la comprobabilidad Reducción del tiempo de prueba durante el diseño para la comprobabilidad

    Reducción del tiempo de prueba durante el diseño para la comprobabilidad

    Yogeshkumar Parmar
    Ediciones Nuestro Conocimiento
    21.01.2022

    Dado que la tecnología VLSI se está reduciendo continuamente a nodos tecnológicos más bajos, nece...

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