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  1. 22.10.2010

    The fast-developing information technology industry is driving a need for new materials in order ...

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  2. 14.01.1991

    Keine ausführliche Beschreibung für 'Bondkontakte' verfügbar.

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  3. 02.04.2012

    Finding new materials for copper low-k interconnects is critical to the continuing development of...

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  4. The conference was on reliability related science in ULSI interconnect. Its main purpose was to d...

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  5. One current challenge to micro- and nanoelectronics is the understanding of stress-related phenom...

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  6. Scientist and engineers as well as graduate students in the fields of This conference will be of ...

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  7. 01.06.2009

    Stress-induced voiding and electromigration have emerged to become key reliability problems for s...

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  8. 01.09.2005

    The fast-developing information technology industry is driving a need for new materials in order ...

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  9. 01.02.2006

    These proceedings present current research on issues related to stress-induced phenomena in on-ch...

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